•  
  •  
 

Title (Arabic)

تقدير متوسط حجم العينة ونسبة المعيب في المعاينة المفردة المبتورة مع تطبيق عملي

DOI

10.33095/jeas.v15i54.1173

Abstract

The purpose of this research is to find the estimator of the average proportion of defectives based on attribute samples. That have been curtailed either with rejection of a lot finding the kth defective or with acceptance on finding the kth non defective. The MLE (Maximum likelihood estimator) is derived. And also the ASN in Single Curtailed Sampling has been derived and we obtain a simplified Formula All the Notations needed are explained.

Abstract (Arabic)

يستخدم فحص المعاينة عندما نقّيم نوعية المنتج بواسطة العينات بدلاُ من الفحص الشامل الذي يؤدي إلى زيادة التكاليف والوقت المطلوب، إضافة إلى إمكانية تلف الوحدات خاصة في حالات الفحص ألتدميري مثل فحص الصور الفوتوغرافية، والمطبوعات، وغيرها، ولتخفيض كمية الفحص، من الضروري استخدام الفحص المبتور كأحد الأساليب المهمة التي اعتمدت في مجال السيطرة النوعية، ويعتبر مفهوم معدل حجم العينة (ASN) من المفاهيم المهمة في هذا النوع من الفحص، إضافة إلى نسبة المعيب في المنتج، لذلك سنحاول اشتقاق صيغة مبسطة لمعدل حجم العينة، وكذلك اشتقاق مقدر لنسبة المعيب في حالة المعاينة المبتورة باستخدام طريقة الإمكان الأعظم وسوف نوضح كل الرموز والعلاقات الضرورية للحصول على المقّدر وكذلك على صيغة مبسطة لمعدل حجم العينة وهو ما يمثل هدف بحثنا هذا.

First Page

321

Share

COinS